接觸式探頭：接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式
探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)
金屬的極佳的聲阻抗。
雙晶探頭：雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于
同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底
面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而
且還可用于高溫環(huán)境。
角度聲束探頭：角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行
檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲
波無法到達(dá)希望檢測的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號。
延遲塊探頭：延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或
環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，
并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用
于高溫應(yīng)用中。
保護(hù)面探頭：保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或
保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。
保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效
果。
水浸探頭：水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼
中，在與防水線纜一起使用時(shí)，可以完全浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲
塊，因此針對必須對工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來說，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭
還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。
高頻探頭：高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測量（取決
于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性
的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
