密集柜材質(zhì)參數(shù)規(guī)格：
1、立柱 1.2～1.5 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
1、立柱 1.2～1.5 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
2、頂板 1.0 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
2、頂板 1.0 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
3、隔板1.0 厚20mm三折邊成型，允許載荷80kg
3、隔板1.0 厚20mm三折邊成型，允許載荷80kg
4、掛板 1.2 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
4、掛板 1.2 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
5、側(cè)板 1.0 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
5、側(cè)板 1.0 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
6、門板 1.0 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板
FLIR紅外相機可以在現(xiàn)場抓取高質(zhì)量的紅外熱圖，并且存貯在后臺的計算機中，對于每一模的溫度都做保存，并且通過后臺的軟件作出統(tǒng)計分析，對于生產(chǎn)的工藝作出的控制，大大提高壓鑄廠家的工藝穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)追溯能力。上圖是一個現(xiàn)場的紅外熱像監(jiān)控系統(tǒng)，通過安裝在機械臂上的紅外相機（安裝在保護殼中），紅外相機根據(jù)壓鑄系統(tǒng)中的PLC發(fā)出的命令抓圖，并且傳輸?shù)胶笈_計算機中，做進一步的溫度分布分析。借助FLIR在線紅外相機強大的功能以及穩(wěn)定性，這套系統(tǒng)已經(jīng)在大量客戶現(xiàn)場穩(wěn)定工作了。
1靜態(tài)電流的測試一定電壓下，讓IC處于無負載，無震蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)極為IC的靜態(tài)電流。2驅(qū)動電流的測試一定電壓下，將IC的負載用可調(diào)電阻代替，讓IC正常工作，當輸出口有輸出時，調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值，使IC輸出端的電平滿足測試要求。以上測試需求，根據(jù)電壓規(guī)格要求，精度要求，推薦合適的直流電源，如IT64雙極性電源；IT61高速高精度電源；其中IT64雙極性電源高至na級別的精度，既作為供電電源，又可以測試靜態(tài)電流。
智能型檔案密集柜的檔案資料管理能力。
我們購買密集架基本上都是為了存儲與管理單位內(nèi)的檔案資料，那么能不能效率的進行管理就成為了我們考慮的重點。智能型檔案密集柜的自動定位功能，可以實現(xiàn)檔案資料的無序存放有序管理，能夠在快的速度內(nèi)找到我們所需要的檔案資料，這樣的話就能夠節(jié)省很多的時間，提高我們的檔案資料管理效率。
第二：智能型檔案密集柜的人員安全保障。
很多人擔心如果說在架體內(nèi)存取資料的時候，萬一密集架自己合上了，那不就會對人造成傷害嗎？其實智能型檔案密集柜的紅外線檢測功能能夠自己監(jiān)測出架體內(nèi)是不是有工作人員，一旦有工作人員在里面，架體就會鎖閉，這樣的話就不會出現(xiàn)架體自動關(guān)閉造成傷害，能夠有效保障人員的操作安全。
第三：智能型檔案密集柜可以實現(xiàn)與原有系統(tǒng)的對接。
可能有些朋友在之前有自己的一些系統(tǒng)，里面存儲了很多的資料信息，就擔心買回來新的產(chǎn)品是不是要進行資料的重新錄入，那樣的話就是一個很大的工作量。現(xiàn)在大型智能密集柜廠家的產(chǎn)品已經(jīng)實現(xiàn)了與單位內(nèi)原有系統(tǒng)的對接，省去了重新錄入的麻煩，給我們節(jié)省了大量的時間以及工作量。
為了使用于LED供電電源設(shè)計的每分錢都充分發(fā)揮作用，我們在本文中提出了一個方案——封閉實際光輸出的控制回路。半導體照明這一新興領(lǐng)域的出現(xiàn)，使同時專長于電力電子學、光學和熱管理學(機械工程)這三個領(lǐng)域的工程師成為搶手人才。目前，在三個領(lǐng)域都富有經(jīng)驗的工程師并不很多，而這通常意味著系統(tǒng)工程師或者整體產(chǎn)品工程師的背景要和這三大領(lǐng)域相關(guān)，同時他們還需盡可能與其他領(lǐng)域的工程師協(xié)作。系統(tǒng)工程師常常會把自己原領(lǐng)域養(yǎng)成的習慣或積累的經(jīng)驗帶入設(shè)計工作中，這和一個主要研究數(shù)位系統(tǒng)的電子工程師轉(zhuǎn)去解決電源管理問題時所遇到的情況相同：他們可能依靠單純的模擬，不在試驗臺上對電源做測試就直接在電路板上布線，因為他們沒有認識到：開關(guān)穩(wěn)壓器需要仔細檢查電路板布局；另外，如果沒有經(jīng)過試驗臺測試，實際的工作情況很難與模擬一致。
otdr的測量原理光脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖驅(qū)動半導體激光器而發(fā)出的測試光脈沖進入光纖沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括兩種：一種是由于光纖折射率的不匹配或不連續(xù)性而產(chǎn)生的菲涅爾反射；另一種是由于光纖芯折射率，微觀的不均勻而引起的瑞利散射。瑞利散射光的強弱與通過該處的光功率成正比。而菲涅爾反射又與光纖的衰耗有直接關(guān)系，其強弱也就反映了光纖各點的衰耗大小。由于散射是向四面八方的，因此這些反射光總有一部分傳輸?shù)捷斎攵恕?
