Parker數(shù)字直流調(diào)速器按鍵無反應(yīng)(維修)二十年經(jīng)驗 或者如它們更廣為人知的那樣:金手指，直流調(diào)速器金手指的電鍍厚度通常僅為300微英寸，在這種厚度下，硬金有望在磨損前存活1,000個循環(huán)，在Omni電路板上，我們擁有內(nèi)部能力來生產(chǎn)觸點和金手指所需的硬質(zhì)鍍金。。請記住，直流調(diào)速器是一種的電子設(shè)備。與跨線路運行的設(shè)備不同，它的設(shè)計目的是在電機或系統(tǒng)崩潰之前為負載提供功率。直流調(diào)速器將對系統(tǒng)條件的波動做出響應(yīng)，并最終根據(jù)系統(tǒng)的哪個部分出現(xiàn)故障而停止故障指示。
通過潮解過程，可溶性物質(zhì)從表面上的固體顆粒轉(zhuǎn)變?yōu)闈饪s液層。毛細管冷凝是導(dǎo)致水分含量增加的另一個過程。它不是在表面上發(fā)生，而是在多孔介質(zhì)中通過蒸氣的多層吸附發(fā)生。因此，它對在直流調(diào)速器表面形成連續(xù)的水通道的貢獻很小[95]。在粉塵沉積的測試板上，毛細管凝結(jié)可能發(fā)生在多孔礦物顆粒，粉塵顆粒表面裂縫中或直流調(diào)速器中的玻璃纖維之間。當RH接臨界轉(zhuǎn)變范圍的起點時，鹽開始潮解。有一些水濃縮在水溶性鹽或附有鹽的礦物顆粒上。表面的潤濕很大程度上受可溶性污染物的控制。因此，液體層可能非常濃縮。由于97種水的量是有限的，因此它尚未形成一條連續(xù)的路徑來允許離子自由移動以承載電流。當RH達到粉塵樣品中混合鹽的CRH時。
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1.用良好的目視檢查系統(tǒng)。查找設(shè)備附近或下方的流水或滴水、高濕度、極端溫度過高、過多的污垢或污染碎片以及腐蝕劑。
這是一個很好的經(jīng)驗法則：如果由于物理環(huán)境的原因您不會將電視放在直流調(diào)速器附近，那么直流調(diào)速器可能會出現(xiàn)問題。如果直流調(diào)速器沒有密封外殼以應(yīng)對惡劣的環(huán)境條件，則必須小心保護直流調(diào)速器組件。
2.清潔直流調(diào)速器的污垢、灰塵和腐蝕。根據(jù)環(huán)境的不同，污染物可能存在重大問題。直流調(diào)速器應(yīng)該相對干凈。不要讓直流調(diào)速器的散熱器上堆積大量污垢。這可能會阻止驅(qū)動半導(dǎo)體充分冷卻，并可能損壞冷卻風(fēng)扇并導(dǎo)致過熱問題。
3.檢查所有接線連接是否緊密。直流調(diào)速器與輸入電源和電機的接線松動是直流調(diào)速器故障的主要原因。由于直流調(diào)速器日復(fù)一日地運行，溫度升高和隨后的冷卻的持續(xù)循環(huán)可能會導(dǎo)致連接隨著時間的推移而松動。根據(jù)設(shè)備制造商的不同，所使用的電線可能會高度絞合以提高靈活性。這種類型的電線可能難以保持緊繃。連接松動會導(dǎo)致過流跳閘、損壞 IGBT、導(dǎo)致輸入整流器故障以及燒毀接觸器和開關(guān)上的端子。
Zi，me是其中一個頻率的測量阻抗，n是測試頻率范圍內(nèi)的頻率點數(shù)（本文中n=201）。在這項研究中，重點是體積電阻的降低，因為它直接與灰塵的影響有關(guān)。表17顯示了從溫度測試數(shù)據(jù)中提取的體電阻值。從Rbulk的提取值可以看出，隨著溫度的升高，Rbulk大大降低。42顯示了溫度測試期間阻抗幅度和體電阻的趨勢。阻抗幅度和Rbulk均隨溫度升高而降低。在20oC和C之間的較低溫度下，阻抗大小和Rbulk之間的差異遠小于一個數(shù)量級。在50oC和60oC之間的較高溫度下，Rbulk比阻抗幅度低一個數(shù)量級以上，這表明體電阻不是阻抗路徑中的主導(dǎo)元素。認為該差異是由界面阻抗引起的。由于缺乏低頻數(shù)據(jù)，因此這些元素（例如擴散控制阻抗和電荷轉(zhuǎn)移電阻）沒有被提取。
其指針會在針對所有可以進行的所有測量進行校準的刻度上移動，盡管萬用表更為常見，但在某些情況下(例如，在監(jiān)視快速變化的值時)，仍模擬萬用表，匈奴戰(zhàn)車隊HuntronTracker的斷電電路板測試使用模擬簽名分析來檢測和隔離板上的組件故障。。 用于在電場中靜電存儲能量，實用電容器的形式千差萬別，但都包含至少兩個由電介質(zhì)隔開的電導(dǎo)體，電容器在其極板之間以靜電場的形式存儲能量，電容器廣泛用于電子電路中，以阻止直流電，同時允許交流電通過，在模擬濾波器網(wǎng)絡(luò)中。。 線路/高壓跳升或[尖峰"，導(dǎo)致內(nèi)部電路(功率晶體管)發(fā)生故障，停電也可能導(dǎo)致?lián)p壞，因為重新打開時會發(fā)生浪涌,正常老化也可能是原因，因為電路[認為"存在問題，其他可能性包括:短路負載繞組過多，導(dǎo)致電機電容過大解決方法:當發(fā)生電源故障時。。 介紹通常用于測量和電子組件和電路板壽命的重要指標是平均故障間隔時間(MTBF)，這是設(shè)備組發(fā)生故障之前的平均時間，MTBF是電路板及其上組件故障率的函數(shù)，浴盆曲線大多數(shù)現(xiàn)代電子部件的故障率都有一個代表其故障特征的獨特的[浴盆"曲線(Kumamoto和Henley1996。。
Parker數(shù)字直流調(diào)速器按鍵無反應(yīng)(維修)二十年經(jīng)驗盡管采取了許多避免EMI的措施，但直到進行測試后才發(fā)現(xiàn)問題。然后，可以進行一些修改以解決問題。EMI測試包括測試方法，設(shè)備和測試位置。測試方法應(yīng)參考所有項目。如果設(shè)備達不到標準，可以使用電路板進行定性測試。如果需要特定的設(shè)備EMI值，則必須使用專業(yè)設(shè)備。至于測試位置，好在暗室中進行測試。年來，隨著涉及數(shù)字視頻和數(shù)字移動通信的電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，這類產(chǎn)品的發(fā)展正推動直流調(diào)速器在輕巧，薄型，微型，多功能，高密度和高可靠性方面的發(fā)展。直流調(diào)速器上有限的布線空間導(dǎo)致通孔，導(dǎo)線，導(dǎo)線和通孔之間的緊密限制，以及通孔銅填充工藝的出現(xiàn)，使直流調(diào)速器的密度提高了大約10％至30％。圖1顯示了基于通孔銅填充的HDI（高密度互連）板。xdfhjdswefrjhds
