瑞士PROCEQ硬度計(jì)沖擊不顯示數(shù)據(jù)故障維修技術(shù)高用作增強(qiáng)材料的玻璃纖維名義上是柔性的。但是,暴露于高溫會(huì)使它們變脆,因此更容易斷裂。在圖4a中還可以觀察到,這個(gè)暗黑的燒焦區(qū)域從PTH的外壁延伸到銅跡線(左上角)。損壞的路徑和高溫的跡象表明,故障是由于導(dǎo)電絲的形成(CFF)所致,它在PTH和接地層的銅走線之間形成了一條導(dǎo)電路徑。討論區(qū)對(duì)發(fā)生故障的印刷(PCB)進(jìn)行了電氣測(cè)試,在已確定的電氣故障部位進(jìn)行了截面剖分,并使用光學(xué)和環(huán)境掃描電子顯微鏡進(jìn)行了檢查。根據(jù)環(huán)氧樹脂的外觀,多條玻璃纖維的斷裂以及鍍通孔(PTH)和銅跡線的損壞路徑,確定故障機(jī)理為導(dǎo)電絲形成(CFF)。在PCB內(nèi)部深處形成導(dǎo)電細(xì)絲很容易被誤診為“未知故障”。為了確保正確識(shí)別故障機(jī)制。
瑞士PROCEQ硬度計(jì)沖擊不顯示數(shù)據(jù)故障維修技術(shù)高
一、開路測(cè)量
開路測(cè)量時(shí),測(cè)量狀態(tài)顯示和電解狀態(tài)顯示將顯示。 LED數(shù)碼管顯示計(jì)數(shù)陽室電解液產(chǎn)生過量的碘,顏色變深。此時(shí)應(yīng)檢查以下情況:
1、測(cè)量插頭、插座是否接觸良好。
2、測(cè)量電引線是否開路,插頭是否焊接良好。
二、 開電解
當(dāng)電解開時(shí),測(cè)量狀態(tài)指示燈有指示,電解狀態(tài)指示燈只亮2個(gè)綠燈,“LED”數(shù)碼管顯示不計(jì)數(shù)。此時(shí)應(yīng)檢查以下情況:
1、電解插頭、插座是否接觸良好。
2、陰室上電解引線是否斷路,插頭是否焊接良好(重新焊接插頭時(shí)應(yīng)注意確保正負(fù)性不要焊錯(cuò))。
3、陰陽鉑絲焊點(diǎn)是否開路。
電導(dǎo)率也高16倍,如表18所示,由于吸濕率和電導(dǎo)率是本文確定的關(guān)鍵因素,粉塵4對(duì)粉塵的影響小,阻抗損失,金屬遷移和腐蝕故障,實(shí)驗(yàn)結(jié)果與這一觀察結(jié)果一致,在RH測(cè)試中,當(dāng)RH升高到90%時(shí),阻抗下降到閾值以下。 如果所有邊的長(zhǎng)度均不大于1.00英寸,則在PCB之間增加300密耳,在外部,,增加400密耳的邊界,但:如果PCB不是矩形的,請(qǐng)?jiān)赑CB之間留出300密耳的空間對(duì)于V計(jì)分,請(qǐng)?jiān)赑CB板邊緣與銅墊或走線之間留出20mil的空間。
三、測(cè)量短路
當(dāng)測(cè)量短路時(shí),測(cè)量和電解狀態(tài)顯示無指示,LED數(shù)碼管顯示不計(jì)數(shù)。此時(shí)應(yīng)檢查以下情況:
1、測(cè)量插頭或插座是否短路。
2、測(cè)量電的兩個(gè)球端是否碰在一起或內(nèi)部是否有短路。
3、測(cè)量電是否漏電。漏液時(shí)雖然儀器電解時(shí)間超過半小時(shí)以上,但無法達(dá)到終點(diǎn)(這不是電解液的問題,應(yīng)更換測(cè)量電)。
4、儀器如有其他故障,請(qǐng)與凌科自動(dòng)化聯(lián)系。
柔性印刷電路的主要應(yīng)用是3個(gè)尺寸的緊湊包裝,與運(yùn)動(dòng)部件的互連,的扁電纜,薄膜開關(guān)面板,下面討論常規(guī)柔性板的設(shè)計(jì),第6.9節(jié)介紹了薄膜開關(guān)板,柔性板的基材通常是聚酰亞胺,如果可以避免焊接,也可以使用聚酯。 硅樹脂圖5.與硅樹脂(OMNIVISC1050)的膠粘劑(供應(yīng)商:OmniTechnicGmbH)結(jié)合在涂有軸向引線鋁電容器的PCB上硅樹脂和環(huán)氧樹脂是ASELSAN中使用的兩種常見的電子元件增強(qiáng)技術(shù)。 吸濕鹽被用來模擬在服務(wù)環(huán)境中發(fā)現(xiàn)的一些嚴(yán)酷的條件,鹽的成分類似于天然粉塵,只是出于安全原因不使用鹽,如果灰塵進(jìn)入界面,則包含硬質(zhì)礦物顆粒,以提供具有機(jī)械強(qiáng)度的物質(zhì),以使觸點(diǎn)分開,所使用的礦物顆粒是亞利桑那州的道路揚(yáng)塵。 步是清除這些碎片,當(dāng)我們清除電路中的灰塵時(shí),我們喜歡使用天然纖維,原因是我們看到天然纖維刷傾向于產(chǎn)生少得多的靜電,這會(huì)損害諸,,如處理器和微控制器之類的精密集成電路,另外,它們的磨損快得多,并且在使用之間容易清洗。
努力達(dá)到這些目標(biāo)后,我會(huì)放松地說你會(huì)如果您用組裝鑷子分別取下每個(gè)引線,效果會(huì)更好(AA風(fēng)格都不錯(cuò))或尖嘴鉗。一旦他們?nèi)σ愿?,那么您就需要?dān)心加熱墊足夠?,F(xiàn)在您可以拆焊了。這篇文章中的其他消息有好的建議。您還需要維護(hù)您的拆焊工具??赡懿缓萌绻雎哉婵?。在關(guān)閉噴嘴的同時(shí)將熨斗固定在吸盤上非常棘手足夠,但是如果傾斜一些可以讓體面的拆焊工具可以工作接觸墊。如果沒有開孔,但已將一些焊料漿化,則可以嘗試使用的焊芯(Solder-Wick(Soder-Wik)品牌是好的);它可以有時(shí)會(huì)通過毛細(xì)管作用從下方拉起焊料。(我沒有相信這一點(diǎn),直到發(fā)生!足夠,或者可能被腐蝕。它應(yīng)該像海綿。用一點(diǎn)焊料重新填充孔可能更快。
RH,control|DFDFloglogT,RH,粉塵10|ZT,RH,粉塵|其中ZT,RH,control是對(duì)照樣品在溫度和相對(duì)濕度條件下的測(cè)量阻抗,ZT,RH,dust是粉塵污染樣品在相同溫度和相對(duì)濕度條件下的測(cè)量阻抗。 可以使用研究中引入的降解因子,臨界轉(zhuǎn)變范圍和失效時(shí)間進(jìn)行量化,該結(jié)果表明,單一鹽或化合物的混合物不能代表所有粉塵,它還表明,使用ISO標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉塵代替天然粉塵樣品進(jìn)行可靠性評(píng)估可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確,應(yīng)該從現(xiàn)場(chǎng)收集灰塵。 通常認(rèn)為,影響儀器維修承受周期性熱負(fù)荷的性能的主要影響是通孔處的銅與所用電介質(zhì)材料之間的CTE不匹配,使儀器維修更薄不會(huì)使電鍍通孔或微通孔中的銅鍍層的機(jī)械負(fù)荷變得更加嚴(yán)重,當(dāng)前工作的結(jié)果證實(shí)了這一假設(shè)。 信號(hào)線性刻度,編碼器,接開關(guān)等),并且控制器計(jì)算出數(shù)學(xué)上何處以及如何伺服電機(jī)需要移動(dòng),所提供的監(jiān)視設(shè)備均在伺服設(shè)備外部,并且某些設(shè)備是伺服設(shè)備部件的一部分,例如伺服電機(jī)中內(nèi)置有編碼器和分解器,主軸電機(jī)中具有編碼器和速度傳感器。
設(shè)計(jì)/設(shè)備控制將檢測(cè)到潛在的原因/機(jī)制以及隨后的故障模式設(shè)計(jì)/設(shè)備控制不會(huì)和/或無法檢測(cè)到潛在的原因/機(jī)制和隨后的故障模式,或者沒有設(shè)計(jì)/設(shè)備控制可能需要采取措施來改善當(dāng)前的檢測(cè)控制。改進(jìn)將解決機(jī)器評(píng)估策略中的弱點(diǎn)。這些動(dòng)作位于“建議的動(dòng)作”列中。MFMEA第4節(jié)風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先級(jí)編號(hào)(RPN)風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先級(jí)數(shù)字(RPN)是先前選擇的排名的產(chǎn)品:嚴(yán)重性,發(fā)生和檢測(cè)。RPN閾值在操作確定中是不允許的。由于兩個(gè)原因,不應(yīng)分配RPN閾值:RPN值并不總是代表相對(duì)風(fēng)險(xiǎn)MFMEA團(tuán)隊(duì)的行為不佳,試圖低于的RPN閾值此行為不能解決或提高風(fēng)險(xiǎn)建議措施“建議措施”列是在機(jī)械FMEA表單上放置所有潛在措施/改進(jìn)措施的位置。已完成的操作是MFMEA的目的。
瑞士PROCEQ硬度計(jì)沖擊不顯示數(shù)據(jù)故障維修技術(shù)高正如對(duì)未來的預(yù)測(cè)一樣,許多人想知道我們制造和使用的電子產(chǎn)品的未來會(huì)怎樣。但是對(duì)于復(fù)雜的電子系統(tǒng),大多數(shù)故障不是由于固有的磨損機(jī)制。而是由于各種各樣的可分配原因,這些原因大多數(shù)是設(shè)計(jì)或制造中的錯(cuò)誤。由于電子設(shè)備故障原因的性質(zhì)非常多樣,因此,沒有證據(jù)表明我們可以對(duì)未來的故障率進(jìn)行建模和預(yù)測(cè),而不管許多人仍然希望做到這一點(diǎn)并希望它成為現(xiàn)實(shí)的事實(shí)。確定性的經(jīng)驗(yàn)應(yīng)力限和弱點(diǎn)發(fā)現(xiàn)是用于構(gòu)建可靠的電子系統(tǒng)的為有效的工具。使用逐步的壓力來限制方法(例如HALT),并專注于發(fā)現(xiàn)可能存在可靠性風(fēng)險(xiǎn)的潛在弱點(diǎn)(缺少謂詞)。我們可以很快找到復(fù)雜的電子系統(tǒng)在壓力條件下的強(qiáng)度限,以便基于當(dāng)前的標(biāo)準(zhǔn)電子技術(shù)建立強(qiáng)度基準(zhǔn)。 kjbaeedfwerfws