4.1.1.13 Grounding test:
FANUC A03B-0807-C001 輸入為3 Pin(有FG者),一般均要測接地阻(Grounding test),安規(guī)規(guī)定FG到輸出線材(輸出端)的接地電阻不能超過100MΩ(2.5mA/3 Second).
4.1.1.14 溫升記錄
設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)定案后(暫定),需針對(duì)整體溫升及EMI做評(píng)估,若溫升或EMI無法符合規(guī)格,則需重新實(shí)驗(yàn).溫升記錄請(qǐng)參考附件,D5原來使用BYV118(10A/40V Schottky barrier 肖特基二極管 ),因溫升較高改為PBYR1540CTX(15A/40V).
FANUC A03B-0807-C001 4.1.1.15 EMI測試:
EMI測試分為二類:
Conduction(傳導(dǎo)干擾)
Radiation(幅射干擾)
前者視規(guī)范不同而有差異(FCC : 450K - 30MHz,CISPR 22 :150K - 30MHz),前者可利用廠內(nèi)的頻譜分析儀驗(yàn)證;后者(范圍由30M - 300MHz,則因廠內(nèi)無設(shè)備必須到實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證,Conduction,Radiation測試數(shù)據(jù)請(qǐng)參考附件) .
FANUC A03B-0807-C001 4.1.1.16 機(jī)構(gòu)尺寸:
設(shè)計(jì)階段即應(yīng)對(duì)機(jī)構(gòu)尺寸驗(yàn)證,驗(yàn)證的項(xiàng)目包括 : PCB尺寸、零件限高、零件禁置區(qū)、螺絲孔位置及孔徑、外殼孔寸….,若設(shè)計(jì)階段無法驗(yàn)證,則必須在樣品階段驗(yàn)證.
4.1.2 樣品驗(yàn)證:
FANUC A03B-0807-C001 樣品制作完成后,除溫升記錄、EMI測試外(是否需重新驗(yàn)證,視情況而定),每一臺(tái)樣品都應(yīng)經(jīng)過驗(yàn)證(包括電氣及機(jī)構(gòu)尺寸),此階段的電氣驗(yàn)證可以以ATE(Chroma)測試來完成,ATE測試必須與電氣規(guī)格相符.
4.1.3 QE驗(yàn)證:
QE針對(duì)工程部所提供的樣品做驗(yàn)證,工程部應(yīng)提供以下交件及樣品供QE驗(yàn)證.
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