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產(chǎn)品簡介
德國菲希爾X射線熒光測厚儀及材料分析儀XDL
德國菲希爾X射線熒光測厚儀及材料分析儀XDL
產(chǎn)品價格：￥面議
上架日期：2021-03-23 21:05:58
產(chǎn)地：本地
發(fā)貨地：本地至全國
供應(yīng)數(shù)量：不限
最少起訂：1臺
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詳細說明

    品牌：德國菲希爾 加工定制：是 型號：XDL
    類型：鍍層 測量范圍：0-3000 mm 顯示方式：數(shù)顯
    電源電壓：220 V 外形尺寸：570×760×650 mm


    德國菲希爾X射線熒光測厚儀及材料分析儀

    通用 規(guī)格
    設(shè)計用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液
    分析。
    元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)
    配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時，*多可同時測定 24 種元素
    設(shè)計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
    測量方向 由上往下
    X  射線源
    X 射線管  帶鈹窗口的鎢管
    高壓 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
    孔徑（準(zhǔn)直器） ? 0.3 mm 可選：? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm
    測量點尺寸 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小，
    實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
    *小的測量點大小約 ? 0.2mm
    X  射線探測
    X 射線接收器
    測量距離
    比例接收器
    0 ~ 80 mm，使用磚利保護的 DCM 測量距離補償法
    樣品定位
    視頻系統(tǒng)
    高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
    手動聚焦，對被測位置進行監(jiān)控
    十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸）
    可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于精準(zhǔn)定位樣品
    放大倍數(shù) 40x – 160x
    電氣參數(shù)
    電源要求 220 V ，50 Hz
    功率 *大 120 W （不包括計算機）
    保護等級 IP40
    尺寸規(guī)格
    外部尺寸 寬×深×高[mm]：570×760×650
    內(nèi)部測量室尺寸 寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品*大高度”部分的說明）
    重量 120 kg
    環(huán)境要求
    使用時溫度 10°C – 40°C
    存儲或運輸時溫度 0°C – 50°C
    空氣相對濕度 ≤ 95 %，無結(jié)露


    工作臺
    設(shè)計 馬達驅(qū)動，可編程 X/Y 平臺
    255 x 235 mm
    ≤ 80 mm/s
    ≤ 0.01 mm 單向
    300 x 350 mm
    馬達驅(qū)動，可編程運行
    140 mm
    5 kg，降低精度可達 20kg
    140 mm
    有
    X/Y 平臺*大移動范圍
    X/Y 平臺移動速度
    X/Y 平臺移動重復(fù)精度
    可用樣品放置區(qū)域
    Z 軸
    Z 軸移動范圍
    樣品*大重量
    樣品*大高度
    激光（1 級）定位點
    計算單元
    計算機 帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統(tǒng)
    軟件 標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM ® V.6 LIGHT
    可選： WinFTM ® V.6 BASIC，PDM，SUPER

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
    CE 合格標(biāo)準(zhǔn)  EN 61010
    型式許可 作為受完全保護的儀器
    型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。


    訂貨號
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498
    如有特殊要求，可與 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型號。
    FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注冊商標(biāo)。
    Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美國及其他地區(qū)的注冊商標(biāo)。


    德國 X 射線熒光鍍層厚度測量及材料分析儀
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及
    材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自
    動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。



    XDL 240 特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。


    FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方
    式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。



    典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
    ? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
    ? 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
    ? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
    ? 全自動測量，如測量印刷線路板
    ? 分析電鍍?nèi)芤?br />

    XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
    比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
    由于采用了 FISCHER 完全基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣
    品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量和分析。


    設(shè)計理念
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅(qū)動的 X-
    Y 工作臺，當(dāng)測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達驅(qū)動的 Z 軸系
    統(tǒng)，可編程運行。


    高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精準(zhǔn)定位測量位置。通過視頻
    窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測
    量位置。


    測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測
    量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。


    帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精準(zhǔn)調(diào)
    整。


    所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能
    強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。


    XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器，型式許可完全符合
    德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。







    德國FISCHER菲希爾臺式測量儀器     FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

    XAN500
    一臺儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

    MMS PC2
    采用不同測量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

    CMS2
    臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

    GOLDSCOPE
    GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計的

    XAN
    用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

    XUL / XULM
    基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

    XDL / XDLM / XDAL
    功能強大：XDL 系列儀器具有的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

    XDV-SDD
    FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足*高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計

    XDV-μ
    FISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中*微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

    XUV
    X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

    XDL / XDLM / XDAL
    憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器。

    特性：
    ? X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
    ? 由于測量距離可以調(diào)節(jié)（*大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
    ? 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試
    ? 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）
    應(yīng)用：

    鍍層厚度測量
    ? 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
    ? 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
    ? 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
    ? 鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
    ? 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
    材料分析
    ? 電鍍槽液分析
    ? 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析
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    推薦供應(yīng)
    0571-87774297  
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