| 品牌：美國(guó)泛美 | 型號(hào)：D714-RP | 加工定制：否 | ||||
| 類(lèi)型：超聲波 | 測(cè)量范圍：8*9 | 分辨率：20*22 | ||||
| 尺寸：12 mm | 重量：0.05 kg |
美國(guó)泛美D714-RP超聲波探傷儀探頭
介紹
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。
具體型號(hào)規(guī)格如下表:
| 頻率 | 標(biāo)稱(chēng)晶片尺寸 | 探頭工件編號(hào) | ||
| BNC MHz | 英寸 | 毫米 | 適用的連接器 | 適用的大LEMO連接器 |
| 1 | 0.75 | 19 | D714-RP | D714-RPL1 |
| 0.50 | 13 | D703-RP | D703-RPL1 | |
| 2.25 | 0.75 | 19 | D705-RP | D705-RPL1 |
| 0.50 | 13 | D706-RP | D706-RPL1 | |
| 0.375 | 10 | D771-RP | D771-RPL1 | |
| 0.25 | 6 | D785-RP | D785-RPL1 | |
| 3.5 | 0.75 | 19 | D781-RP | D781-RPL1 |
| 0.50 | 13 | D782-RP | D782-RPL1 | |
| 0.375 | 10 | D783-RP | D783-RPL1 | |
| 0.25 | 6 | D784-RP | D784-RPL1 | |
| 5 | 0.75 | 19 | D708-RP | D708-RPL1 |
| 0.50 | 13 | D709-RP | D709-RPL1 | |
| 0.375 | 10 | D710-RP | D710-RPL1 | |
| 0.25 | 6 | D711-RP | D711-RPL1 | |
| 7.5 | 0.50 | 13 | D720-RP | D720-RPL1 |
| 0.25 | 6 | D721-RP | D721-RPL1 | |
| 10 | 0.50 | 13 | D712-RP | D712-RPL1 |
| 0.25 | 6 | D713-RP | D713-RPL1 | |
奧林巴斯超聲探頭選擇
接觸式探頭：
接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具
有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的的聲阻抗。
接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。
優(yōu)勢(shì)
? 專(zhuān)利WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
? 所有這類(lèi)探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。
? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。
? 可用于檢測(cè)多種材料。
應(yīng)用
? 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。
? 分層缺陷的探測(cè)和定量。
? 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。
? 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
? 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。
指尖接觸式
? 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。
? 303不銹鋼外殼。
? 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。
? 根據(jù)客戶(hù)的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。
6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4；3毫米
（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8。
? 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一
層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢
測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。
要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢(xún)我們。
優(yōu)勢(shì)
? 改進(jìn)了近表面的分辨率。
? 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。
? 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。
? 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍?。
? 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。
? 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
? 剩余壁厚測(cè)量。
? 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。
? 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。
? 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
? 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
? 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的溫度
為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10
秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍尖端雙晶）。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束
探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，
而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。
優(yōu)勢(shì)
? 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，
還表現(xiàn)出的防磨特性。
? 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。
? 用戶(hù)可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。
? 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
? 具有外形吻合性能。
? 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)
計(jì)（參見(jiàn)第15頁(yè)）。
應(yīng)用
? 缺陷探測(cè)與定量。
? 要了解衍射時(shí)差探頭，請(qǐng)參閱第35頁(yè)。
? 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。
袖珍旋入式探頭
? 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。
? 不同頻率的探頭顏色不同。
? 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專(zhuān)門(mén)與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢(shì)
? 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。
? 較高的探頭頻率提高了分辨率。
? 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
? 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
? 精確測(cè)厚。
? 垂直聲束缺陷探測(cè)。
? 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)?？筛鼡Q延遲塊探頭
? 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。
? 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
? 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
