| 品牌：GE | 型號(hào)：IAP-..25.3.2 | 頻率：0.25M Hz | ||||
| 功率：10 W | 破碎容量：12 ml | 占空比：20 | ||||
| 電源：3 V | 外形尺寸：9*9 mm | 重量：0.03 kg | ||||
| 用途：超聲波探頭 |
A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測(cè)，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開(kāi)：例如半導(dǎo)體基體、電氣插頭和表面保護(hù)層中的材料分離、氣孔和雜質(zhì)等。同樣地，它還可以應(yīng)用于擴(kuò)散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測(cè)試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預(yù)制成型零部件的測(cè)試。
接觸式和水浸式接觸法探頭
直射線(xiàn)---單晶
?被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
?接觸面或平或曲
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
?透透厚部件
?逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率
?需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
?通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭---雙晶
?接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
?近表面分辨率好，用于較薄部件
?需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
?通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
?芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上
?利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
?大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
?有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫
?有單晶探頭和雙晶探頭
?需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
?有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能
| 壓電高聚物高頻直探頭 | 特性：非常高的分辨率，聚焦聲束寬度非常小 |
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IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2 |
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IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3 |
