一、CH－1－S型薄膜測厚儀產(chǎn)品簡介
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、技術(shù)指標(biāo)
量 程：0-1mm
分 度 值：0.001mm
上測頭曲率半徑：15-50mm
測頭對試樣施加負荷我：0.1-0.5N
測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm
