38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
主要特性
- 可與雙晶和單晶探頭兼容。
- 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
- 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
- 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
- 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
- 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
- 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
- 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
- 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
- 厚度、聲速和渡越時間測量。
- 差分模式和縮減率模式。
- 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
- 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
- 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
- 設(shè)計符合EN15317標準。
可選的編碼B掃描
這種強大的可選功能允許38DL PLUS連接到線性編碼掃描儀以生成編碼的B掃描。 38DL PLUS將捕獲并存儲距離傳播信息以及相應(yīng)的厚度讀數(shù)。 也捕獲最小厚度的波形。 用戶可以選擇測量之間的距離，并在雙向和單向模式之間進行選擇。 在單次B掃描中最多可存儲10,000個厚度讀數(shù)。
穿透涂層技術(shù)
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
溫度補償
材料溫度的變化影響聲速和厚度測量的精度。 溫度補償功能允許您手動輸入校準模塊的溫度和測量點的電流（高）溫度。 38DL PLUS自動顯示溫度校正厚度。
氧化層/沉積物測量（可選項）
38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。
V聲程創(chuàng)建功能
用戶使用這項正等待專利通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。
用戶只需校準并輸入已知厚度值（最小3個校準點；最大10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。
自動探頭識別
所有標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。
