TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復性和精確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復性和精確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意，我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
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規(guī)格摘要 |
TP200 | TP200B |
|---|---|---|
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主要應(yīng)用 |
用于需要高精度的數(shù)控坐標測量機。 |
與TP200一樣，但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場合。 |
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感應(yīng)方向 |
六軸：±X、±Y、±Z |
六軸：±X、±Y、±Z |
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單向重復性 (2s μm) |
電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：±0.50 μm |
電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：±0.50 μm |
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XY（2D）輪廓測量偏差 |
電平觸發(fā)1：0.80 μm 電平觸發(fā)2：±0.90 μm |
電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.2 μm |
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XYZ (3D) 測量偏差 |
電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.40 μm |
電平觸發(fā)1：±2.50 μm 電平觸發(fā)2：±4 μm |
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測針交換的重復性 |
SCR200：±0.50 μm（最大） 手動：±1 μm（最大） |
SCR200：±0.50 μm（最大） 手動：±1 μm（最大） |
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測力（測尖） |
XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
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越程測力（位移為0.50 mm時） |
XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
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重量（測頭傳感器和模塊） |
22 g |
22 g |
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最長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） |
300 mm |
300 mm |
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推薦的最大測針長度（M2測針系列） |
SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
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安裝方式 |
M8螺紋 |
M8螺紋 |
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適合的接口 |
PI 200-3、UCC |
PI 200-3、UCC |
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測針模塊交換架 |
自動：SCR200 手動：MSR1 |
自動：SCR200 手動：MSR1 |
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測針系列 |
M2 |
M2 |
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