答：目前對(duì)接頭的電氣檢測(cè)還沒有很完善的測(cè)試方法，主要是采用直流電阻測(cè)量法和渦流探測(cè)法。接頭的直流電阻很難規(guī)定一個(gè)具體的數(shù)值，一般是以其阻值不大于同長(zhǎng)度、同截面的母線直流電阻值為宜。線棒的接頭電阻主要是各接頭之間相互比較，最大值與最小值之比不應(yīng)超過1.2倍；再者就是前后比較，如某些接頭與交接時(shí)或前幾年的直流電阻相比呈逐次增大趨勢(shì)，則這些接頭也應(yīng)視為不合格。
直流電阻的測(cè)量可采用分支直流壓降法。這種方法是在接頭所在的定子支路上通人較大的直流，如200A(以不超過該分支額定電流的20％為宜，注意不是定子額定電流，如某發(fā)電機(jī)額定電流為2000A，而每相有4個(gè)并聯(lián)分支，則分支額定電流為500A)，然后測(cè)量接頭的壓降，求得直流電阻值。為保證接頭測(cè)量相互比較的精度，應(yīng)將各分支回路串聯(lián)起來通入同一電流，有條件可三相全部分支串接。如發(fā)電機(jī)分支不能解開，則只能按每相測(cè)試。由于大截面接頭的直流電阻值都是微歐級(jí)，因此應(yīng)盡可能使用高精度的電位表計(jì)，測(cè)試時(shí)應(yīng)保持直流電流的恒定，否則其數(shù)據(jù)也不準(zhǔn)確。采用雙臂電橋也可測(cè)量接頭的直流電阻，但由于其輸出的電流小，在這種大截面多接觸點(diǎn)的接頭中，測(cè)試數(shù)據(jù)不能說明問題，但根據(jù)實(shí)際情況也可作補(bǔ)充參考，以相互比較。
渦流探測(cè)儀是通過對(duì)交變磁場(chǎng)下，整塊導(dǎo)體因結(jié)構(gòu)的差別而產(chǎn)生不同的感應(yīng)渦流的原理制成的，探測(cè)儀根據(jù)感應(yīng)渦流的大小，判斷接頭的焊接質(zhì)量。接頭焊接質(zhì)量好、無空洞，則感應(yīng)的渦流大。反之，焊接質(zhì)量不好則接頭感應(yīng)的渦流偏小，即接觸電阻大。此法只適用于并頭套結(jié)構(gòu)的接頭測(cè)試。渦流探測(cè)法測(cè)出的電阻也很難規(guī)定具體的標(biāo)準(zhǔn)，只能采用接頭電阻間相互比較的方法判斷是否合格，因此積累測(cè)試數(shù)據(jù)和判斷經(jīng)驗(yàn)很重要。渦流法的優(yōu)點(diǎn)是使用比較方便，采用不同的探頭，即可在接頭絕緣盒不打開的情況下測(cè)試，也可在只有并頭套的情況下測(cè)試。但受測(cè)點(diǎn)位置和探針接觸的影響，測(cè)量結(jié)果有一定的分散性。
直流電阻法是通過電路的方法取值，而渦流法是通過磁場(chǎng)的方法取值，二者的數(shù)據(jù)不能直接比較；如果兩種方法測(cè)試均顯示某接頭電阻值偏大，則該接頭的焊接質(zhì)量可以認(rèn)為不合格。
紅外熱像測(cè)溫儀測(cè)量是一種新的測(cè)試方法：在定子繞組中通人分支額定電流的直流電流，使定子接頭產(chǎn)生溫升，在通流一定時(shí)間后，定子接頭溫升達(dá)到穩(wěn)定，此時(shí)用紅外熱像儀測(cè)量每一定子接頭的溫度，然后進(jìn)行比較判斷。對(duì)未裝絕緣的接頭，最高溫度與最低溫度相差5℃者，則溫度高者視為不合格接頭；對(duì)已裝絕緣的接頭，相差3℃者，溫度高者應(yīng)除去絕緣做進(jìn)一步的測(cè)試判斷。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是既可測(cè)未包絕緣的接頭，也可測(cè)帶絕緣的接頭且不須破除被測(cè)接頭絕緣。其特點(diǎn)是不取具體的電阻值，而是以實(shí)際發(fā)熱溫度的差別來判斷接頭質(zhì)量。這種方法可與大電流直流電阻法并行比較鑒定。如某發(fā)電廠4號(hào)發(fā)電機(jī)，1995年大修試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)，定子繞組直流電阻三相互差2.13％，且C相比上次大修時(shí)大1.6％。后來在定子繞組中通人1300 A直流電流，用紅外熱像儀測(cè)量方法，確定C相55號(hào)槽上線棒引線接頭處發(fā)熱，剝開絕緣發(fā)現(xiàn)，接頭有一半焊錫熔化脫落。
此外還有超聲波無損探傷，但只限于制造廠使用。
