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作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,今日宣布推出NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)系列。這些基于PXI的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)在半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中引入NI和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PXI模塊降低了射頻和混合信號(hào)設(shè)備的測(cè)試成本。與傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)相比,STS前沿用戶正在獲益于降低的生產(chǎn)成本和提高的吞吐量,并且可使用相同的硬件和軟件工具中進(jìn)行特征性測(cè)試和生產(chǎn)。這可以減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)的時(shí)間,進(jìn)而縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。
“隨著集成電路的復(fù)雜性呈指數(shù)增長(zhǎng),為從設(shè)計(jì)驗(yàn)證到生產(chǎn)線末端測(cè)試等應(yīng)用提供最佳測(cè)試覆蓋率的高成本效益ATE變得越來(lái)越重要,” 英飛凌科技股份公司的汽車車身動(dòng)力產(chǎn)品資深設(shè)計(jì)和應(yīng)用工程師Hans-Peter Kreuter博士表示,“對(duì)于混合信號(hào)測(cè)試,基于PXI的STS相比傳統(tǒng)ATE,以非常低的成本提供了最佳測(cè)試覆蓋率?!?br />
STS的開(kāi)放模塊化架構(gòu)使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器,這是采用傳統(tǒng)具有封閉結(jié)構(gòu)的ATE無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。這對(duì)于RF和混合信號(hào)測(cè)試尤其重要,因?yàn)樽钚掳雽?dǎo)體技術(shù)要求的測(cè)試覆蓋率往往超越了傳統(tǒng)ATE所能提供的。STS結(jié)合了TestStand測(cè)試管理軟件和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,具有一組針對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境的豐富功能,包括可定制的操作界面、分選機(jī)/探針集成、具有引腳-通道映射且以設(shè)備為中心的編程、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)格式報(bào)告以及集成式多點(diǎn)支持。有了這些功能,工程師可以快速開(kāi)發(fā)、調(diào)試和部署測(cè)試程序,縮短總體上市時(shí)間。此外,STS還具有全封閉的“零占用空間”測(cè)試頭、標(biāo)準(zhǔn)的連接和對(duì)接機(jī)制,可與半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試臺(tái)相集成。
“隨著測(cè)試系統(tǒng)不斷更新?lián)Q代,舊測(cè)試系統(tǒng)無(wú)法滿足新的測(cè)試需求,使用傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)需要不斷更換試驗(yàn)車間的設(shè)備,從而導(dǎo)致高昂的成本,但STS的開(kāi)放式PXI架構(gòu)可以幫助我們保持原有的投資并在其基礎(chǔ)上進(jìn)行擴(kuò)展,而不是淘汰掉那些設(shè)備,”Integrated Device Technology (IDT)測(cè)試總監(jiān)Glen Peer表示,“它提供了我們需要的靈活性,使我們能夠根據(jù)不斷提高的性能需求重新配置和擴(kuò)展我們的測(cè)試平臺(tái)?!?br />
STS系列包括三個(gè)不同的型號(hào)T1、T2和T4,分別可容納一個(gè)、兩個(gè)和四個(gè)PXI機(jī)箱。這些體積各異但卻具有相同軟件、儀器和互聯(lián)機(jī)制的系統(tǒng)使得工程師能夠針對(duì)各種引腳數(shù)和站點(diǎn)數(shù)需求進(jìn)行優(yōu)化。此外,STS的可擴(kuò)展性使其可部署到從特征性測(cè)試到生產(chǎn)測(cè)試等各個(gè)過(guò)程,不僅優(yōu)化了成本,而且大大簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)的相關(guān)性,進(jìn)而縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。
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