LEICA EM TXP
可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。
在 Leica EM TXP 之前，針對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割，研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力，很困難的工作，因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用 Leica EM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。
另外，借助其多功能的特點(diǎn)，Leica EM TXP 也是可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。
與觀察體系合為一體在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過程和目標(biāo)區(qū)域?qū)悠饭潭ㄔ跇悠窇冶凵希跇悠诽幚磉^程中，通過立體顯微鏡可對樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測量。Leica EM TXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得*視覺觀察效果。
> 對微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備
> 通過立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
> 多功能化機(jī)械處理
> 自動化樣品處理過程控制
> 可獲得平如鏡面的拋光效果
> LED 環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選
多種方式制備處理樣品
樣品無需轉(zhuǎn)移，只需切換工具不需要來回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。
河南多功能精研一體機(jī)技術(shù)參數(shù):
· 工具前進(jìn)步進(jìn)：100μm，10μm，1μm及0.5μm可選。顯示進(jìn)程，并具有快進(jìn)和撤回功能
· 工具軸承轉(zhuǎn)速：300~ 20000rpm可調(diào)
· 具有自動進(jìn)程倒計(jì)數(shù)，自動時(shí)間倒計(jì)時(shí)功能，具有自動應(yīng)力反饋功能
· 樣品處理過程可由蠕動泵自動泵取冷卻液/研磨液，并可接吸塵器
· 帶有體視鏡觀察系統(tǒng)，LED環(huán)形照明，4分格，帶有坐標(biāo)尺，可接攝像頭
· 可選工具: 切割鋸片，銑刀，拋光片，3mm 空心鉆
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http://www.cnrongcheng.com/SonList-1182507.html
